分子荧光光谱仪
英文名:Molecular Fluorescence Spectrometer(FL)
型号:F-7000
制造商:日立高新技术公司(Hitachi)
房间:化学实验楼208 负责人:周金风 联系电话:18237527565
年份:2012年
主要特点:
1. 同类产品中灵敏度最高(RMS信噪比为800,峰间信噪比为250)。
2. 同类产品中扫描速度最快(60,000 nm/min)。
3. 设计紧凑,与F-4500号相比,体积比为2/3,质量(重量)减少了30%。
4. 三维时间扫描模式追踪监控化学反应过程显示出来。
5. 增大检测时间范围,能够测定持续较长时间发光的磷光。
6. 可以使用浓度范围高达6个数量级的数据生成校正曲线,未知样品不需进行任何预处理就能进行定量。
7. 增强“时间扫描”设置时间,时间扫描能力比原来长2.5倍。
8. 软件功能符合美国FDA Part11要求,该法规正在成为制药行业必不可少的法规。
9. 利用选装的报告生成系统,客户可对数据处理后的报告格式进行自由定制。
应用范围:
广泛用于化工、环保、生命科学、医学、药学和药理学等领域,适合材料的激发光谱、发射光谱以及荧光强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振等物理参数分析,从而用于定性与定量分析、分子的构象变化以及分子间作用解析等。
主要技术参数
1. 单色器:机刻凹面衍射光栅; 闪跃波长:激发波长300 nm,发射波长400 nm。
2. 测量波长范围:200~750 nm和零次光。
3. 分辨率:1.0 nm。
4. 波长准确度:±1.0 nm。
5. 波长扫描速度:30,60,240,1200,2400,12000,30000,60000 nm/min。
6. 光谱带宽:激发光谱:1,2.5,5,10,20 nm;
发射光谱:1,2.5,5,10,20 nm。
7. 光源:150 W氙灯。
8. 灵敏度:800:1水的拉曼峰(RMS)。
9. 标准荧光池最小试样体积:0.6 mL(10 mm标准池)。
10. 可进行磷光、时间扫描、定量分析和磷光寿命测量。
11. 预扫描功能:自动、快速地寻找到最佳激发波长和发射波长。
12. 响应时间:0.002 s,0.004 s,0.01 s,0.05 s,0.1 s,0.5 s,2 s,4 s
9999js金沙老品牌2023-2024学年第二学期实验教学课表 |
课程 |
实验 项目 |
实验 时数 |
指导 教师 |
周次 |
节次 |
实验(分)室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
2 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
2 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
2 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
2 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
3 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
3 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
3 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
4 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
4 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
4 |
五[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
4 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
5 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
5 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
5 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
6 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
6 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
6 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
7 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
7 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
7 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
8 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
8 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
8 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
9 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
9 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
9 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
10 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
10 |
三[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
10 |
二[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
有机导电高分子材料的紫外-可见光谱分析 |
3.0 |
张晓东 |
3 |
七[5-7节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
5 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
6 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
7 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
8 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
9 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |
[F31126903] 材料结构与性能 |
半导体量子点荧光光谱性能测试 |
3.0 |
盛鹏涛 |
10 |
六[6-8节] |
C208分子荧光光谱室 |